程序试验应记录如下内容:
a) 被试样品;
b) 试样厚度的测量方法(若不是标称厚度);
c) 试验前的处理;
d) 试样数量(若不是5个,应注明);
e) 试验温度;
f) 周围媒质;
g) 使用的电;
h) 升压方式;
I) 以电气强度或是击穿电压作为报告的结果。
将符合5章的电装到试样上,装电时要防止损伤试样。使用符合8章的电气设备,将电压施加到两电之间,接10. 1到10. 5之一的方法升高电压,观察试样是击穿还是闪络<见11章>。
升压方式 短时<快跑>试验 将试验电压由零开始以均匀的速度升高直至击穿发生。对被试材料选择开压速度时,应使大多数击穿发生在(10~20) s之间。 对于击穿电压有显著 差异的材料,也有可能在这个时间范围以外发生破坏 如果大多数击穿都发生在(10~20) s之间,则认为试验是成功的。升压速度应从下述中选取:100V/s,200 V/s, 500V/s,1000 V/s,2000v /s, 5000v /s等等注:对于大多数材料,通常使用500 V/s的升压速度,对模塑材料,使用2 000 V/s升压速度,以便获得与IEC 6029 6, 2003相适应的可比数据。
20 s逐组升压试验 将40%的预计短时击穿电压施加于试拌上。 如不知道短时击穿电压预计值,则应按10. 1 的方法来得到。 如试样耐受这个电压20 s还未击穿,则应按表1规定的增量逐级增加电压。 每一次增加的电压应立即且连续施加20s直至发生击穿。 升压要尽可能地快并无任何瞬态过电压,级间升压所用的时间应包括在较高一级电压的20 s期间内。如果击穿发生在从起始试验算起少于6级的电压内,则用低的起始电压再做5个试样的试验。根据试样能耐受20s而不击穿的试验电臣来确定电气强度。 慢连升压试验(120~240) s从40%的预计短时击穿电压开始匀速升压,使击穿发生在(120~240) s之间。 对于击穿电压有显著差异的材料来说,有些试样可能在此时间范围以外发生破坏, 如果大多数击穿发生在(120~240) s 之间,则认为是满意的。 选择升压速度时应从下列数据中开始选择:2 /sV儿,5 V/s,10 V/s,20 V/s, 50 V/s,100 V/s,200 V/s,500 V/s,l 000 V/s,等等。 60s逻辑升压试验除非另有规定,应按10. 2进行试验,但每一级中的耐压时间为60 s,慢速升压试验(300~600) s除非另有规定,应按10.3进行试验,但击穿应发生在(300~600) s之间。 从下列数据中选择升压速度:1V/s,2 V儿,5 V/s,10 V/s,20 V儿,50 V/s,100 V/s,200 V/s,等等。
注:在10.3中所述的(120~240) s的慢速升压试验和在10.5中所述的(300~600) s的慢速升压试验所得与20 s逐级升压(10, 2)或60 s逐级升压(10, 4)所得结果大致相似 当使用现代自动设备时,前两者较逐级升压试验为方便且采用这两种慢速开压试验也使自动设备的使用成为可能.检查试验当做检查或耐压试验时,要求施加一个预先确定的电压值。 即将该电压尽可能快而准确地升到所要求的值,升压过程中不出现任何瞬态的过电压。然后将所要求的电压值维持到规定的时间。击穿的判断在电击穿的同时,回路中电流增加和试样两端电压下降。电流的增加可使断路器跳开或熔丝烧断.但是有时也可由于闪络、试样充电电流、漏电或局部版电电流、设备磁化电流或误动作而引起断路嚣跳开.因此,断路器应与试验设备及被试材料的特性相匹配,否则,断路器可能会在试样未击穿时动作或当试样击穿时断路器不动作,这样便不能正确地判断出是否击穿。即使在zui好的条件下,也存在周围媒质先击穿的情况也会发生。因此,在试验过程中要注意观察和检测这些现象,若发现媒质击穿,应在报告中注明.注:对漏电检测电路敏感性特别重要的那些材料,在这种材料的标准中也应作同样的说明。在垂直于材料表面方向试验时通常容易判断,无论通道是否充有碳粒,当击穿发生后用肉眼容易看到真正击穿的通道.当平行于材料表面方向试验时,要求判断是由试样破坏引起的击穿现象还是由闪络引起的失效(见5.2)。可以通过检查试样或使用再施加一次电压的办法来进行鉴别,再次施加的电压值应小于 一次施加的击穿电压值。试验证明,再次施加的电压值为次击穿电压值的50%比较合适,然后用 与次试验相同的方法升压直到破坏。试验次数除非另有规定,通常应做5次试验,取试验结果的中值作为电气强度或击穿电压的值。如果任何一个试验结果 当试验并非用于例行的质量控制时,做较多的试样,具体的数量与材料的分散性和所用的统计分析方法有关。 对并非用于例行的质量控制试验.参见附录A对决定需要试验次数和数据分析参考是有用的。